Auflistung: nach Autor Qu, N
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| Erscheinungsdatum | Titel | Autor(en) |
|---|---|---|
| 2004 | Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress | Willemen, J; Andreini, A; De Heyn, V; Esmark, K; Etherton, M; Gieser, H; Groeseneken, G; Mettler, S; Morena, E; Qu, N; Soppa, W; Stadler, W; Stella, R; Wilkening, W; Wolf, H; Zullino, L |