X-RAY-SCATTERING FACTORS OF CRYSTALLINE SILICON AND GERMANIUM FROM A BOND CHARGE MODEL

Autor(en): BALBAS, LC
RUBIO, A
ALONSO, JA
MARCH, NH
BORSTEL, G
Stichwörter: Chemistry; Chemistry, Multidisciplinary; Physics; Physics, Condensed Matter
Erscheinungsdatum: 1988
Herausgeber: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
Journal: JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS
Volumen: 49
Ausgabe: 9
Startseite: 1013
Seitenende: 1017
ISSN: 00223697
DOI: 10.1016/0022-3697(88)90147-3

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