XPS study of photorefractive Sr0.61Ba0.39Nb2O6:Ce crystals
| Autor(en): | Niemann, R Buse, K Pankrath, R Neumann, M |
Stichwörter: | CE; Physics; Physics, Condensed Matter; SPECTRA | Erscheinungsdatum: | 1996 | Herausgeber: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD | Journal: | SOLID STATE COMMUNICATIONS | Volumen: | 98 | Ausgabe: | 3 | Startseite: | 209 | Seitenende: | 213 | Zusammenfassung: | X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements show that Ce occurs in photorefractive Sr0.61Ba0.39Nb2O6 (SBN) crystals mainly in the valence state 3+. We give arguments that Ce-3+/4+ is the photorefractive center in SBN:Ce with a typical concentration ratio c(Ce?(3+))/c(Ce?(4+)) = 600. Quantitative analysis of the XPS data yields a Ce distribution coefficient of about 0.6 /- 0.3. |
ISSN: | 00381098 | DOI: | 10.1016/0038-1098(96)00087-7 |
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geprüft am 18.05.2024
