NUMERICAL-ANALYSIS OF NORMAL REFLECTANCE DATA AS APPLIED TO THE STUDY OF OXIDE-FILMS ON COPPER
| Autor(en): | BARWINKEL, K SCHMIDT, HJ |
Stichwörter: | Materials Science; Materials Science, Coatings & Films; Materials Science, Multidisciplinary; Physics; Physics, Applied; Physics, Condensed Matter | Erscheinungsdatum: | 1979 | Herausgeber: | ELSEVIER SCIENCE SA LAUSANNE | Enthalten in: | THIN SOLID FILMS | Band: | 59 | Ausgabe: | 3 | Startseite: | 373 | Seitenende: | 383 | ISSN: | 00406090 | DOI: | 10.1016/0040-6090(79)90447-4 |
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