Magnetic force microscopy applied in magnetic data storage technology
| Autor(en): | Koblischka, Michael Rudolf Hewener, B. Hartmann, Uwe Wienss, A. Christoffer, B. Persch-Schuy, G. |
Stichwörter: | Atomic force microscopy; Microscopy; Magnetization; Quantum mechanics; Materials science; Optics; Magnetic force microscope; Magnetic field; Nanotechnology; Physics | Erscheinungsdatum: | 2003 | Herausgeber: | Springer Science+Business Media | Journal: | Applied Physics A | Volumen: | 76 | Ausgabe: | 6 | Startseite: | 879 | Seitenende: | 884 | ISSN: | 0947-8396 | DOI: | https://doi.org/10.1007/s00339-002-1968-5 |
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