THICKNESS DEPENDENCE OF THE ELECTRONIC-STRUCTURE OF ULTRATHIN, EPITAXIAL NI(111)/W(110) LAYERS

Autor(en): KAMPER, KP
SCHMITT, W
GUNTHERODT, G
KUHLENBECK, H
Stichwörter: Materials Science; Materials Science, Multidisciplinary; Physics; Physics, Applied; Physics, Condensed Matter
Erscheinungsdatum: 1988
Herausgeber: AMERICAN PHYSICAL SOC
Journal: PHYSICAL REVIEW B
Volumen: 38
Ausgabe: 14
Startseite: 9451
Seitenende: 9456
ISSN: 01631829
DOI: 10.1103/PhysRevB.38.9451

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