Auflistung: nach Autor Schemme, Tobias


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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
2009Temperature dependence of photorefractive response of Sn2P 2S6Shumelyuk, A.; Ruediger, A.; Schirmer, O.F.; Hilling, B.; Dieckmann, V.; Brüning, H.; Schemme, T. ; Imlau, M. ; Odoulov, S.
2012X-ray diffraction study on size effects in epitaxial magnetite thin films on MgO(001)Bertram, F. ; Deiter, C.; Hoefert, O.; Schemme, T. ; Timmer, F.; Suendorf, M.; Zimmermann, B.; Wollschlaeger, J.
2017XPS and morphological properties of Cr2O3 thin films grown by thermal evaporation methodKadari, Ahmed; Schemme, Tobias ; Kadri, Dahane; Wollschlaeger, Joachim 
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