Auflistung: nach Autor Qu, N.
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| Erscheinungsdatum | Titel | Autor(en) |
|---|---|---|
| 2003 | Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress | Willemen, J.; Andreini, Antonio; Heyn, V. De; Esmark, Kai; Etherton, M.; Gieser, H.; Groeseneken, Guido; Mettler, S.; Morena, E.; Qu, N.; Soppa, W.; Stadler, Wolfgang; Stella, R.; Wilkening, Wolfgang; Wolf, Heinrich; Zullino, Lucia |