Auflistung: nach Schlagwort X ray diffraction, Atomically smooth surface
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| Erscheinungsdatum | Titel | Autor(en) |
|---|---|---|
| 2009 | Epitaxial growth of Bi(111) on Si(001) | Jnawali, G.; Hattab, H.; Bobisch, C.A.; Bernhart, A.; Zubkov, E.; Deiter, C.; Weisemoeller, T.; Bertram, F. ; Wollschl̈ager, J. ; M̈oller, R.; Hoegen, M.H.-V. |