Auflistung: nach Schlagwort X ray diffraction, Film preparation
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| Erscheinungsdatum | Titel | Autor(en) |
|---|---|---|
| 2010 | Structure and stability of cub-Pr2O3 films on Si(111) under post deposition annealing conditions | Gevers, S.; Weisemoeller, T.; Zimmermann, B.; Deiter, C.; Wollschläger, J. |