Dependability Aspects in Configurable Embedded Operating Systems

Autor(en): Schirmeier, Horst
Borchert, Christoph
Hoffmann, Martin
Dietrich, Christian
Martens, Arthur
Kapitza, Rüdiger
Lohmann, Daniel
Spinczyk, Olaf 
Stichwörter: Computer science; Fault tolerance; Dependability; Embedded system; Reliability (semiconductor); Reliability engineering; Mixed criticality; Software
Erscheinungsdatum: 2021
Herausgeber: Springer, Cham
Enthalten in: Embedded systems
Startseite: 85
Seitenende: 116
ISSN: 2193-0155
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-030-52017-5_4
Rechte: cc-by

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