Multiwavelength laser line profile sensing for agricultural crop characterization

Autor(en): Strothmann, Wolfram
Ruckelshausen, Arno
Hertzberg, Joachim 
Stichwörter: Computer science; Geometry; Geology; Laser; Optics; Materials science; Integrating sphere; Mathematics; Line (geometry); Remote sensing; Physics
Erscheinungsdatum: 2014
Herausgeber: SPIE
Journal: Proceedings of SPIE
ISSN: 0277-786X
DOI: https://doi.org/10.1117/12.2052009

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