Auflistung: nach Autor Giussani, A.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
2009Atomically smooth and single crystalline Ge(111)/cubic-Pr(2)O(3)(111)/Si(111) heterostructures: Structural and chemical composition study (vol 105, 033512, 2009)Giussani, A.; Rodenbach, P.; Zaumseil, P.; Dabrowski, J.; Kurps, R.; Weidner, G.; Muessig, H. -J.; Storck, P.; Wollschlaeger, J.; Schroeder, T.
2009Atomically smooth and single crystalline Ge(111)/cubic-Pr2O3(111)/Si(111) heterostructures: Structural and chemical composition studyGiussani, A.; Rodenbach, P.; Zaumseil, P.; Dabrowski, J.; Kurps, R.; Weidner, G.; Muessig, H.-J.; Storck, P.; Wollschlaeger, J.; Schroeder, T.
2009Defect structure of Ge(111)/cubic Pr2O3(111)/Si(111) heterostructures: Thickness and annealing dependenceGiussani, A.; Zaumseil, P.; Rodenbach, P.; Weidner, G.; Schubert, M. A.; Geiger, D.; Lichte, H.; Storck, P.; Wollschlaeger, J.; Schroeder, T.
2008Epitaxy of single crystalline PrO2 films on Si(111)Weisemoeller, T.; Deiter, C.; Bertram, F. ; Gevers, S.; Giussani, A.; Zaumseil, P.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2011Post-deposition annealing of praseodymia films on Si(111) at low temperaturesGevers, S.; Weisemoeller, T.; Bruns, D.; Giussani, A.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2009Postdeposition annealing induced transition from hexagonal Pr2O3 to cubic PrO2 films on Si(111)Weisemoeller, T.; Bertram, F. ; Gevers, S.; Greuling, A.; Deiter, C.; Tobergte, H.; Neumann, M.; Wollschlaeger, J.; Giussani, A.; Schroeder, T.
2012Stacking behavior of twin-free type-B oriented CeO2(111) films on hexagonal Pr2O3(0001)/Si(111) systemsZoellner, M. H.; Dabrowski, J.; Zaumseil, P.; Giussani, A.; Schubert, M. A.; Lupina, G.; Wilkens, H. ; Wollschlaeger, J.; Reichling, M. ; Baeumer, M.; Schroeder, T.
2008The influence of lattice oxygen on the initial growth behavior of heteroepitaxial Ge layers on single crystalline PrO2(111)/Si(111) support systemsGiussani, A.; Seifarth, O.; Rodenbach, P.; Muessig, H.-J.; Zaumseil, P.; Weisemoeller, T.; Deiter, C.; Wollschlaeger, J.; Storck, P.; Schroeder, T.