Auflistung: nach Autor Wilkens, Henrik


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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
2013Stabilization of the ceria i-phase (Ce7O12) surface on Si(111)Wilkens, H. ; Schuckmann, O.; Oelke, R.; Gevers, S.; Schaefer, A.; Baeumer, M.; Zoellner, M. H.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2012Stacking behavior of twin-free type-B oriented CeO2(111) films on hexagonal Pr2O3(0001)/Si(111) systemsZoellner, M. H.; Dabrowski, J.; Zaumseil, P.; Giussani, A.; Schubert, M. A.; Lupina, G.; Wilkens, H. ; Wollschlaeger, J.; Reichling, M. ; Baeumer, M.; Schroeder, T.
2012Stoichiometry-structure correlation of epitaxial Ce1-xPrxO2-delta (X=0-1) thin films on Si(111)Zoellner, Marvin Hartwig; Zaumseil, Peter; Wilkens, Henrik ; Gevers, Sebastian; Wollschlaeger, Joachim ; Baeumer, Marcus; Xie, Ya-Hong; Niu, Gang; Schroeder, Thomas
2014Structural Changes of Ultrathin Cub-PrO2(111)/Si(111) Films Due to Thermally Induced Oxygen DesorptionWilkens, H. ; Gevers, S.; Roehe, S.; Schaefer, A.; Baeumer, M.; Zoellner, M. H.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2013Structural transitions of epitaxial ceria films on Si(111)Wilkens, H. ; Schuckmann, O.; Oelke, R.; Gevers, S.; Reichling, M. ; Schaefer, A.; Baeumer, M.; Zoellner, M. H.; Niu, G.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2013Surface morphology of ultrathin hex-Pr2O3 films on Si(111)Wilkens, H. ; Rodewald, J. ; Gevers, S.; Zoellner, M. H.; Schroeder, T.; Wollschlaeger, J.
2011Vectorial magnetometry using magnetooptic Kerr effect including first- and second-order contributions for thin ferromagnetic filmsKuschel, T. ; Bardenhagen, H.; Wilkens, H. ; Schubert, R.; Hamrle, J.; Pistora, J.; Wollschlaeger, J.